工作范圍在可見光，近紅外以及短波紅外的電子成像探測(cè)器生成的二維電子圖像在工業(yè)，國防，安全，科研，環(huán)保，醫(yī)療等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。工作范圍在VIS/NIR波段的成像探測(cè)器幾乎全部基于硅材料的技術(shù)：彩色或者單色制式的CCD, CMOS. ICCD, EMCCD, EBAPS, sCMOS等。彩色VIS/NIR探測(cè)器的工作波段只局限于可見光波段而單色VIS/NIR探測(cè)器的工作波段則可以達(dá)到1000nm。

InGaAs成像探測(cè)器的工作范圍在SWIR波段：非制冷類型工作在900nm-1700nm；制冷類型工作在1000nm到約2200nm以及特殊的帶寬從600nm到1700nm。

Inframet提供一組三套用于測(cè)試VIS-SWIR成像探測(cè)器的測(cè)試系統(tǒng)：VIT，SIT和SOL。

這些測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)理念和測(cè)試能力有所不同。 簡(jiǎn)單來說，可以認(rèn)為VIT是一套在VIS-SWIR范圍內(nèi)對(duì)幾十個(gè)帶寬進(jìn)行連續(xù)調(diào)節(jié)光強(qiáng)的圖像投影系統(tǒng); SIT是一套可以連續(xù)調(diào)節(jié)光強(qiáng)和波長(zhǎng)的標(biāo)定光源; SOL是一套連續(xù)調(diào)節(jié)光強(qiáng)度和步進(jìn)調(diào)節(jié)帶寬的標(biāo)定光源。

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VIT測(cè)試系統(tǒng)主要用于測(cè)試VIS-NIR光譜范圍內(nèi)十幾個(gè)光帶寬的成像質(zhì)量參數(shù)，輻射參數(shù)和光度學(xué)參數(shù); SIT測(cè)試系統(tǒng)主要用于測(cè)試在VIS-SWIR范圍內(nèi)連續(xù)調(diào)節(jié)波長(zhǎng)的輻射參數(shù); SOL測(cè)試系統(tǒng)主要用于測(cè)試在VIS-SWIR范圍內(nèi)的光度學(xué)參數(shù)與步進(jìn)調(diào)節(jié)波長(zhǎng)下的輻射參數(shù)。